近日，为期 3 天的深圳国际集成电路创新博览会顺利落下帷幕。丹泊仪器携多款集成电路行业专用环境可靠性测试设备重磅参展，与众多半导体、芯片研发、封装测试领域的客户、行业同仁齐聚深圳，交流芯片可靠性测试技术方案，本次展会圆满收官。
本次展会，丹泊仪器重点展出超级节能恒温恒湿箱、HAST 高加速寿命试验箱、HALT 高加速寿命试验机、ESS 应力筛选设备、TCT 冷热冲击试验箱等核心产品，覆盖芯片研发、封装、成品可靠性验证全流程测试需求。
其中超级节能恒温恒湿箱凭借实测综合节能 41.99% 的亮眼表现，成为现场焦点。设备采用压缩机变频控制、智能 PID 精细化调控、加热加湿 SCR 控制等多项自研技术，压缩机实现压力温度自动闭环控制，工作过程不结霜不凝露，大幅降低能耗，在长期不间断的芯片环境老化测试场景中，能够有效帮助企业降低实验室运行成本。
HAST、HALT、ESS、TCT 系列设备，则针对半导体器件高加速寿命测试、应力筛选、快速温变冷热冲击等测试场景设计，可模拟各类极端温湿度环境，快速暴露芯片、元器件潜在缺陷，满足集成电路行业严苛的可靠性验证标准，适配芯片设计公司、封测实验室、半导体材料企业的试验需求。
展会现场，丹泊仪器技术团队接待了大量来访客户，针对芯片测试难点、实验室设备选型、定制化试验方案等问题开展一对一深度交流，结合客户实际测试工况，讲解设备性能优势与落地应用案例，收获众多意向客户咨询与合作洽谈机会。
此次参展，是丹泊仪器深耕集成电路可靠性测试领域的一次成果展示。未来，丹泊仪器将持续打磨环境试验设备技术，不断优化节能、稳定、高精度的测试解决方案，助力半导体、集成电路产业提升产品可靠性研发能力，也期待后续与更多行业伙伴携手共进。
