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高加速寿命试验箱(HAST)
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product introduction
产品介绍

丹泊仪器 HAST 高加速寿命试验箱(高压蒸煮试验箱),专为半导体芯片封装、PCB 线路板、车规电子元器件加速湿热应力筛选,满足 JEDEC JESD22-A110 测试规范。在高温高压高湿环境下快速激发元器件潜在失效,大幅缩短可靠性验证周期,设备具备稳定控温控压、防凝露结构,支持长时间不间断测试,为封测实验室、芯片研发、电子零部件检测提供国产高可靠 HAST 老化解决方案。




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product Features
产品特点
Specification
产品参数
产品名称 高加速寿命试验箱(HAST)
温度范围 105.0℃ to 133.3℃ ( at 100%RH)
110.0℃ to 140.0℃ ( at 85% RH)
118.0℃ to 150.0℃ ( at 65% RH)
分布精度 ±1.0℃ ( at 85%RH)
温度控制精度 ±0.5℃
湿度范围 65%RH to 100%RH
湿度控制精度 ±3%RH (at 85%RH)
压力范围
(相对压力值)
0.019 ~ 0.208Mpa
测试时间 可连续测试500小时
时间范围 1分钟至999小时59分钟可设定
到达额定温度所需时间 约70分钟(130度,85%RH)
排气模式 三种模式: 恒定湿度缓慢冷却、保湿冷却方式 和 强制排气
设备标准配置 安全警报系统 压力安全阀、过压保护装置、过热保护装置、低水位保护装置、 供水异常检测装置、过电流和漏电断路器、加热器断路器、 热排水处理系统、负压预防系统、门安全系统 (操作期间的门锁检查机构、门打开/关闭检查机构)
供水系统 配置储水箱(5升),一次试验用水量约3升.(储水箱 水量自动补足)
数据保存 USB 端口 1个
偏压端 40 PCS(外加电压:125V,整体发热量30W以内) *端子数量可选配
导线孔预留 预留标准导线孔 4(个)
随机物品 排水软管x1(根);供水/排水软管x1(根);辅助供水桶x1(个); 电源线(4SQ 3m)x1(根);样品篮子x1(个); 三色灯(配螺丝钉M4x14,3个)x1(套)
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