丹泊仪器 HAST 高加速寿命试验箱(高压蒸煮试验箱),专为半导体芯片封装、PCB 线路板、车规电子元器件加速湿热应力筛选,满足 JEDEC JESD22-A110 测试规范。在高温高压高湿环境下快速激发元器件潜在失效,大幅缩短可靠性验证周期,设备具备稳定控温控压、防凝露结构,支持长时间不间断测试,为封测实验室、芯片研发、电子零部件检测提供国产高可靠 HAST 老化解决方案。

| 产品名称 | 高加速寿命试验箱(HAST) | |
|---|---|---|
| 温度范围 |
105.0℃ to 133.3℃ ( at 100%RH) 110.0℃ to 140.0℃ ( at 85% RH) 118.0℃ to 150.0℃ ( at 65% RH) |
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| 分布精度 | ±1.0℃ ( at 85%RH) | |
| 温度控制精度 | ±0.5℃ | |
| 湿度范围 | 65%RH to 100%RH | |
| 湿度控制精度 | ±3%RH (at 85%RH) | |
| 压力范围 (相对压力值) |
0.019 ~ 0.208Mpa | |
| 测试时间 | 可连续测试500小时 | |
| 时间范围 | 1分钟至999小时59分钟可设定 | |
| 到达额定温度所需时间 | 约70分钟(130度,85%RH) | |
| 排气模式 | 三种模式: 恒定湿度缓慢冷却、保湿冷却方式 和 强制排气 | |
| 设备标准配置 | 安全警报系统 | 压力安全阀、过压保护装置、过热保护装置、低水位保护装置、 供水异常检测装置、过电流和漏电断路器、加热器断路器、 热排水处理系统、负压预防系统、门安全系统 (操作期间的门锁检查机构、门打开/关闭检查机构) |
| 供水系统 | 配置储水箱(5升),一次试验用水量约3升.(储水箱 水量自动补足) | |
| 数据保存 | USB 端口 1个 | |
| 偏压端 | 40 PCS(外加电压:125V,整体发热量30W以内) *端子数量可选配 | |
| 导线孔预留 | 预留标准导线孔 4(个) | |
| 随机物品 | 排水软管x1(根);供水/排水软管x1(根);辅助供水桶x1(个); 电源线(4SQ 3m)x1(根);样品篮子x1(个); 三色灯(配螺丝钉M4x14,3个)x1(套) | |