系统梳理高可靠元器件知识--质量等级

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质量等级定义:

两个领域范畴:
■1)(研制保证与供应)质量等级:根据元器件在设计、制造及 检验过程中质量控制水平的高低程度来区分其质量档次的等级。
■2)(系统可靠性预计)质量等级:在特定应用环境下用于可靠 性预计计算元器件工作失效率时用于区分不同质量档次的等级。 (GJB299《电子设备可靠性预计手册》)
■第二个领域的质量等级主要是单机设计师进行系统设计计算、分配单机可靠性指标时涉及,使用面较为狭窄;而第一个领域 的质量等级涉及方方面面,包括承制方、选用方、质量保证方 等不同对象,故通常所说的质量等级大部分情况下指前者。

区别:

■质量等级,代表了产品的质量和可靠性水平。
■质量等级的两种表征方式:
■(一)失效率等级:L、M、P、R、S;例M: (0.1 〜1)%/I000h 常用“指数分布”模型计算,个别专业(如钽电解电容器)采 用“威布尔分布” 模型计算。 
■(二)质量保证等级:指产品通用(总)规范中规定的产品设 计、制造、检验和试验的控制等级。
■a)分档次的质量保证等级;
■ b)单一质量保证等级。
I对于结构较为简单的元器件,其产品寿命分布模型为指数分布 或威布尔分布时,可采用失效率等级表征质量等级,采用失效 率等级表征质量等级是较为理想的方式,较为直观、易用;
■对于结构较为复杂的元器件,其不同档次产品的失效率模式可能多种多样、失效率也不具有线性特性,此种情况下无法确定 产品的失效率等级,只能用质量保证的严酷程度即质量保证等 级来确定质量等级。
■具体使用何种质量等级表证方式来界定元器件的质量水平,由 相关元器件的标准体系确定(不同的标准体系,对于质量等级 的规定存在较大的差异)。

来源:

■1)第一类来源:标准体系中相关通用规范规定狭义的(经典的) 质量等级来源于本模式,即相关元器件标准体系中通用规范规 定要求的质量等级。由于有相关元器件标准
体系的支撑,使用 面较为广泛,此种模式来源的质量等级是日常工作中实际接触 各种质量等级的平台来源,是在质量等级领域进行标准化的主 要成果。
■元器件除各方公认的元器件标准体系中相关通用规范规定的质 量等级外,现实中还存在其它来源的“质量等级”。
■2)第二类来源:由承制方自行定义要求的质量等级。实际情况 中,有几类情况,包括:
■a)相关元器件标准体系中无适用通用规范,只能自定义等级;
■b)承制方达不到相关元器件标准体系中通用规范规定的要求, 只能自行定义质量等级;
■c)承制方可以实现相关元器件标准体系中通用规范规定的技 术要求,但没有进行认证的产品,承制方自定义其质量等级;
■d)相关元器件标准体系中关于特定质量等级的规定不合理, 承制方根据实际情况增加要求后,自行定义的质量等级。
■3)第三类来源:用户定义对于用户的特定应用,已有质量等级 不满足应用要求,用户自定义的质量等级。

■上述各类质量等级中,第一类来源是主体,日常接触中大多数 质量等级都是这类情况,但由于各种原因,第一类来源的质量 等级在诸多情况下并不能满足所有应用(如质量控制水平偏低、 偏高或者适用性不佳、产品体系不全等),故第二、第三类来 源的质量等级在实际工作中均是客观存在的,第二、第三类来 源质量等级中的大部分情况是基于第一类质量等级进行增删后 确定的质量等级。

附录:质量等级清单(部分)

■电阻器
GJB244 (薄膜):T、S、R、P、M、C GJB2828 (功率线绕):J GJB920 (网络):M、C GJB 6787 (OOhm片膜):T、H、C ■电容器
GJB 63 (固钽):D、C、B、S、R、P、M GJB 191 (云母):T、S、R、P、M、C GJB 192 (多层片瓷):S、R、P、M、C
■分立器件
MIL-PRF-19500: JANS、JANTXV、JANTX、JAN
GJB33: JY、JCT、JT、JP
QJB: (QJB)JCT、JT、JP; J
QZJ840611/A: G
■真空电子器件
GJB3312: J
■光电子器件 GJB8119: Gl、G2、G3
■集成电路
MIL-PRF-38534: K、H、G、E、D MIL-PRF-38535: V/S、Q/B、N、T、M ESCC GS No.9000/9010: B
GJB597(QPL): S、BG、B;GJB 7400(QML): V、Q、N、T
GJB2438: K、H、G、D; SJ 20668: J
LMS: G、G+、B/K、K+; CAST: A、B、C; SAST: SAST.
QJB: (QJB)B. H; J
QZJ840613: G
■继电器
GJB 65: R、P、M、L GJB1042: J
GJB 1515 (固体):丫、W ■连接器 GJB 599: J
■微波元件:
GJB 1426 (功分/合成):J

(本文转至可靠性交流)

2019年6月5日 14:37
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